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Guías docentes
 

38302 - TÉCNICAS FÍSICAS DE CARACTERIZACIÓN (2015-16)

Datos generales  

Código: 38302
Profesor/a responsable:
UNTIEDT LECUONA, CARLOS
Crdts. ECTS: 4,50
Créditos teóricos: 1,20
Créditos prácticos: 0,60
Carga no presencial: 2,70

Departamentos con docencia

Estudios en los que se imparte



Competencias y objetivos

Contexto de la asignatura para el curso 2015-16

Asignatura del Máster de Nanociencia que muestra distintas técnicas de caracterización en nanociencia

 

 

Competencias de la asignatura (verificadas por ANECA en grados y másteres oficiales)

Competencias específicas (CE)

  • CE01 : Que los estudiantes hayan adquirido los conocimientos y habilidades necesarias para seguir futuros estudios de doctorado en Nanociencia y Nanotecnología.
  • CE02 : Que los estudiantes de un área de conocimiento (p.e. física) sean capaces de comunicarse e interaccionar científicamente con colegas de otras áreas de conocimiento (p.e. química en la resolución de problemas planteados por la Nanociencia y la Nanotecnología Molecular.
  • CE07 : Adquirir los conocimientos básicos en los fundamentos, el uso y las aplicaciones de las técnicas microscópicas y espectroscópicas utilizadas en nanotecnología.
  • CE15 : Conocer los problemas técnicos y conceptuales que plantea la medida de propiedades físicas en sistemas formados por una única molécula (transporte de cargas, propiedades ópticas, propiedades magnéticas).

 

Competencias Básicas y del MECES (Marco Español de Cualificaciones para la Educación Superior)

  • CB10 : Que los estudiantes posean las habilidades de aprendizaje que les permitan continuar estudiando de un modo que habrá de ser en gran medida autodirigido o autónomo.
  • CB6 : Poseer y comprender conocimientos que aporten una base u oportunidad de ser originales en el desarrollo y/o aplicación de ideas, a menudo en un contexto de investigación.
  • CB7 : Que los estudiantes sepan aplicar los conocimientos adquiridos y su capacidad de resolución de problemas en entornos nuevos o poco conocidos dentro de contextos más amplios (o multidisciplinares) relacionados con su área de estudio.
  • CB8 : Que los estudiantes sean capaces de integrar conocimientos y enfrentarse a la complejidad de formular juicios a partir de una información que, siendo incompleta o limitada, incluya reflexiones sobre las responsabilidades sociales y éticas vinculadas a la aplicación de sus conocimientos y juicios.

 

Competencia exclusiva de la asignatura

Sin datos

Resultados de aprendizaje (Objetivos formativos)

Se pretende que los alumnos se familiaricen con las técnicas de caracterización física habitualmente utilizadas en nanociencia (técnicas de microscopia y espectroscopia) y en especial con las técnicas de caracterización y análisis de superficies.

Objetivos específicos indicados por el profesorado para el curso 2015-16

Se pretende que los alumnos se familiaricen con las técnicas de caracterización física habitualmente utilizadas en nanociencia (técnicas de microscopia y espectroscopia) y en especial con las técnicas de caracterización y análisis de superficies.


Contenidos y bibliografía

Contenidos para el curso 2015-16

CHAPTER 1: Far-field microscopies.

1.1. Introduction

1.2. Optical microscopies

1.2.1. Overview of geometrical optics

1.2.2. Resolution limits and superresolution techniques: Aberrations and diffraction

1.3. Electron microscopies

1.3.1. Fundamentals

1.3.2. Instrumentation: electron sources and electrostatic lenses

1.3.3. TEM, SEM y STEM

1.3.4. Information that can be obtained from the different signals.

CHAPTER 2: Optical spectroscopies.

2.1. Optical properties of nanostructures: quantum confinement, excitons and plasmons.

2.2. Absorption and luminescence spectroscopies: energy gaps and the Frank-Condon principle.

2.3. Infrared and Raman spectroscopies: vibrations

2.4. Pump-probe spectroscopy: Excitation lifetimes.

CHAPTER 3: Photoelectron spectroscopies.

3.1. Photoelectric effect, work function, electron mean-free path and final state effects (screening).

3.2. Instrumentation: Light sources, monochromators, flood guns, energy analyzers

3.3. Instrumentation: Ultra-High Vacuum and sample preparation techniques in UHV

3.4. X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS): Chemical identification and Chemical shifts.

3.5. Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy (UPS): Valence band, angle resolved UPS, band dispersion.

3.6. Synchrotron-based techniques: Near-Edge X-ray Absorption Fine Structure (NEXAFS) and magnetic dichroism.

CHAPTER 4: Scanning probe microscopies.

4.1. Scanning Tunneling Microscopy

4.1.1. Theoretical foundations and instrumentation.

4.1.2. Topographical and spectroscopic information with the STM

4.1.3. Inelastic spectroscopy and elementary excitations

4.1.4. STM manipulation

4.2. Atomic Force Microscopy

4.2.1. Theoretical foundations and instrumentation

4.2.2. Topography, friction and Force vs. Distance curves

4.2.3. Mechanical properties of nanostructures

4.3. Other Scanning Probe Microscopies: Magnetic Force Microscopy (MFM) and Scanning Near-field Optical Microscopy (SNOM)

 

Enlaces relacionados

Sin datos

 

Bibliografía

Sin datos

Evaluación

Instrumentos y criterios de evaluación 2015-16

La evaluación del máster se regirá según el convenio firmado entre las universidades participantes y será único para todas ellas independientemente de que existan matices normativos que las diferencien.

Descripción Criterio Tipo Ponderación
Asistencia y participación activa en los seminarios.

Actividad concentrada en las escuelas. 

 ACTIVIDADES DE EVALUACIÓN DURANTE EL SEMESTRE 10
Examen escrito simultaneo en todas las universidades

Según convenio suscrito entre las universidades

 ACTIVIDADES DE EVALUACIÓN DURANTE EL SEMESTRE 70
Resolución de cuestiones

Problemas especificos de la Materia

 ACTIVIDADES DE EVALUACIÓN DURANTE EL SEMESTRE 20

 

Fechas de pruebas de evaluación oficiales para el curso 2015-16

Sin datos

 

 



Profesorado

UNTIEDT LECUONA, CARLOS
Profesor/a responsable

  • CLASE TEÓRICA: Grupos:
    • 1

 

Grupos

CLASE TEÓRICA

Grupo Semestre Turno Idioma Matriculados
Gr. 1 (CLASE TEÓRICA) : 1 AN Mañana ANG 1




Horarios

CLASE TEÓRICA

Grupo Fecha inicio Fecha fin Día Hora inicio Hora fin Aula
1 26/01/2016 26/01/2016 MAR 15:30 17:30 9903PENDIENTE  
1 26/01/2016 26/01/2016 MAR 11:30 13:30 0007P2051  
1 26/01/2016 26/01/2016 MAR 09:00 10:00 0007P2051  
1 26/01/2016 26/01/2016 MAR 18:00 20:00 9903PENDIENTE