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Código:
35804
Profesor/a responsable:
RODES GARCIA, ANTONIO
Crdts. ECTS:
6,00
Créditos teóricos:
1,60
Créditos prácticos:
0,80
Carga no presencial:
3,60
Esta es una de las asignaturas del módulo fundamental del máster. Junto con la asignatura Técnicas de caracterización I, dedicada a la caracterización estructural de sólidos e interfases, esta asignatura pretende completar la visión sobre las diferentes técnicas de caracterización de este tipos de sistemas, en este caso mediante técnicas espectroscópicas electrónicas, espectroscopías vibracionales o técnicas que involucran la interacción con iones o rayos X (fluorescencia y absorción).
Competencias Generales del Título (CG)
Competencias específicas:>>fundamentales
Sin datos
Conocimiento de los conceptos fundamentales de la Ciencia de Materiales, las propiedades principales de los sólidos y las técnicas principales de caracterización. Establecer relación entre propiedades y estructura.
Presentar algunas de las técnicas más importantes en la caracterización de materiales como son las técnicas espectroscópicas y las técnicas basadas en la interacción con iones.
Desarrollar en los alumnos la capacidad de elaborar metodologías y estrategias en la utilización de las diferentes técnicas espectroscópicas y de análisis superficial estudiadas en el curso (XPS, Raman, IR, etc...)
B1. ESPECTROSCOPÍAS ELECTRÓNICAS
T1.Introducción. Preparación de superficies. Caracterización de superficies y capas adsorbidas en diferentes entornos (vacío y en presencia de disolución).
T2. Espectroscopías fotoelectrónicas: de rayos X (XPS) y ultravioleta (UPS). Fundamentos. Instrumentación. Información espectral. Análisis cuantitativo. Técnicas experimentales: variación de la fuente, perfiles de profundidad, variación angular, etc. Aplicaciones.
T3. Espectroscopía electrónica Auger. Fundamentos. Instrumentación. Técnicas: análisis puntual, barrido, etc. Aplicaciones: análisis de capas delgadas, segregación y difusión superficial.
T4. Espectroscopías de pérdida de energía del electrón: CLEELS, EELS y HREELS. Fundamentos. Instrumentación. Técnicas experimentales. Aplicaciones.
B2. ESPECTROSCOPÍAS VIBRACIONALES.
T5. Espectroscopía Infarroja (IR). Fundamentos. Efecto SEIRA. Instrumentación. Técnicas experimentales (DRIFT, ATR, etc.). Aplicaciones en interfases metal/disolución.
T6. Espectroscopía Raman. Fundamentos. Efecto SER. Instrumentación. Técnicas experimentales. Aplicaciones. Aplicaciones en interfases metal/disolución.
T7. Otras espectroscopías vibracionales: SFG, …
B3. OTRAS TÉCNICAS
T8. Técnicas basadas en la interacción con iones. Espectroscopia de dispersión de iones de baja energía (LEIS). Espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS). Principios básicos. Instrumentación. Aplicaciones.
T9. Espectroscopía de fluorescencia de rayos X. Fundamentos. Instrumentación. Técnicas experimentales. Aplicaciones.
T10. Espectroscopía de absorción rayos X (XAFS). Fundamentos. Instrumentación. Técnicas experimentales. Aplicaciones.
PRÁCTICAS:
P1. Preparación de superficies.
P2. Espectroscopía infrarroja (1).
P3. Espectroscopía infrarroja (2).
P4. Espectoscopía Raman (1).
P5. Espectoscopía Raman (2).
Parte de las sesiones de prácticas de problemas se dedicarán visitar los equipos disponibles en los Servicios Técnicos de Investigación de la Universidad de Alicante relacionados con las técnicas explicadas en la superficie (XPS, fluorescencia de rayos X,....)
Sin datos
Surface analysis methods in materials science | |
Autor(es): | O`CONNOR, D. John ; SEXTON, Brett A. ; SMART, Roger St. C. (eds.) |
Edición: | Berlin : Springer, 2003; |
ISBN: | 3-540-41330-8 (rúst.) |
Categoría: | Sin especificar |
Advances in electrochemical science and engineering. Vol. 9 Diffraction and Spectroscopic Methods in Electrochemistry | |
Autor(es): | Alkire, R.C. |
Edición: | Weinheim : Wiley-VCH, 2006; |
ISBN: | 3-527-31317-6 (v. 9) |
Categoría: | Básico |
X-Ray fluorescence spectrometry and related techniques : an introduction | |
Autor(es): | MARGUÍ, Eva ; VAN GRIEKEN, René |
Edición: | New York : Momentum Press, 2013; |
ISBN: | 978-1-60650-391-1 |
Categoría: | Sin especificar |
Surface science : an introduction | |
Autor(es): | OURA, Kenjiro [et al.] |
Edición: | Berlin : Springer, 2003; |
ISBN: | 3-540-00545-5 |
Categoría: | Sin especificar |
Handbook of raman spectroscopy : from the research laboratory to the process line | |
Autor(es): | LEWIS, Ian R.; EDWARDS, Howell G. M. (eds) |
Edición: | New York : Marcel Dekker, 2001; |
ISBN: | 0-8247-0557-2 |
Categoría: | Básico |
Raman spectroscopy for chemical analysis | |
Autor(es): | McCREERY, Richard L. |
Edición: | New York : John Wiley & Sons, 2000; |
ISBN: | 0-471-25287-5 |
Categoría: | Sin especificar |
Solid surfaces, interfaces and thin films | |
Autor(es): | Lüth, Hans |
Edición: | Heidelberg : Springer, 2015; |
ISBN: | 978-3-319-30754-1 |
Categoría: | Sin especificar |
La evaluación de la asignatura se realizará teniendo en cuenta las observaciones del profesor sobre la participación del alumno en las clases teórico/prácticas (evaluación contínua), la corrección de un trabajo bibliográfico relacionado con el contenido de la asignatura y el resultado de un examen final.
La calificación relacionada con la asistencia y participación del alumno en las clases teóricas y prácticas no será recuperable en la convocatoria extraordinaria de julio. Sí se podrán recuperar en esta convocatoria las calificaciones relativas al trabajo bibliográfico y al examen escrito. En cuanto a la convocatoria extraordinaria de finalización de estudios (diciembre), los alumnos que se hayan presentado en convocatorias anteriores mantendrán la calificación correspondiente a la asistencia y participación en las clases teóricas y prácticas y la del trabajo bibliográfico, teniendo que repetir la prueba escrita. Los alumnos que no se hayan presentado en convocatorias anteriores, además de realizar la prueba escrita (50%), tendrán que presentar un trabajo bibliográfico (25%) y realizar una prueba de tipo práctico (25%).
Los trabajos teórico/prácticos realizados han de ser originales. La detección de copia o plagio en cualquier prueba de evaluación supondrá la calificación de "0" en la prueba correspondiente. Se informará a la dirección de Departamento y del centro sobre esta incidencia. La reiteración en la conducta, en esta u otra asignatura, conllevará la notificación al vicerrectorado correspondiente de las faltas cometidas para que estudien el caso y sancionen según la legislación vigente.
Descripción | Criterio | Tipo | Ponderación |
Trabajo bibliográfico | Trabajo bibliográfico, a presentar por escrito, relacionado con el contenido de la asignatura. |
ACTIVIDADES DE EVALUACIÓN DURANTE EL SEMESTRE | 25 |
Valoración del profesor | Valoración del profesor sobre la asistencia y participación del alumno en las clases teóricas y prácticas. |
ACTIVIDADES DE EVALUACIÓN DURANTE EL SEMESTRE | 25 |
Examen escrito | Examen escrito de cuestiones breves relacionadas con el contenido de la asignatura. Dicho examen se realizará, una vez impartidas las clases programadas, en una fecha y hora acordados con los alumnos matriculados en la asignatura. |
EXAMEN FINAL | 50 |
Sin datos
Grupo | Semestre | Turno | Idioma | Matriculados |
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Gr. 1 (CLASE TEÓRICA) : 1 | 2S | Todo el día | CAS | 4 |
Grupo | Semestre | Turno | Idioma | Matriculados |
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Gr. L1 (PRÁCTICAS DE LABORATORIO) : L1 | 2S | Todo el día | CAS | 0 |
Grupo | Semestre | Turno | Idioma | Matriculados |
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Gr. P1 (PRÁCTICAS DE PROBLEMAS / TALLER) : P1 | 2S | Todo el día | CAS | 0 |