Competencies and objectives
- Course context for academic year 2014-15
- Course content (verified by ANECA in official undergraduate and Master’s degrees)
- Learning outcomes (Training objectives)
- Specific objectives stated by the academic staff for academic year 2014-15
Course context for academic year 2014-15
Esta es una de las asignaturas obligatorias del módulo fundamental del máster. Junto con la asignatura Técnicas de caracterización I, dedicada a la caracterización estructural de sólidos e interfases, esta asignatura pretende completar la visión sobre las diferentes técnicas de caracterización de este tipos de sistemas, en este caso mediante técnicas espectroscópicas electrónicas, espectroscopías vibracionales o técnicas que involucran la interacción con iones.
Course content (verified by ANECA in official undergraduate and Master’s degrees)
General Competences (CG)
- CG1 : Commitment to self-guided or autonomous learning to gain deeper knowledge of the subject.
- CG2 : Monitor and critically interpret the latest advances in the theory and practice of Materials Science.
- CG4 : Communicate the content of the subject with sufficient fluency in Spanish and English both orally and in writing.
- CG6 : Use scientific bibliography, patent and legislation databases.
- CG7 : Use computer tools and information technologies.
Specific Competences:>>basic
- CEF4 : Understand the main characterisation techniques to apply them to carrying out research (in both the academic and professional fields) in Materials Science.
- CEF7 : Determine the appropriate characterisation techniques for each kind of material.
Learning outcomes (Training objectives)
No data
Specific objectives stated by the academic staff for academic year 2014-15
Presentar algunas de las técnicas más importantes en la caracterización de materiales como son las técnicas espectroscópicas y las técnicas basadas en la interacción con iones.
Desarrollar en los alumnos la capacidad de elaborar metodologías y estrategias en la utilización de las diferentes técnicas espectroscópicas y de análisis superficial estudiadas en el curso (XPS, Raman, IR, etc...)
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