FUNDAMENTOS DE LOS MÉTODOS DE SCATTERING. APLICACIÓN A LA CARACTERIZACIÓN DE OBJETOS
Año académico
2003-04
2004-05
2005-06
2006-07
2007-08
2008-09
2009-10
2010-11
2011-12
2012-13
2013-14
2014-15
2015-16
2016-17
2017-18
2018-19
2019-20
2020-21
2021-22
2022-23
Código
63048
Descripción
Crdts. Teor.
3
Crdts. Pract.
0
A efectos de intercambios en programas de movilidad, la carga de esta asignatura equivale a 3,75 ECTS.
Departamentos y Áreas
Departamentos
Área
Crdts. Teor.
Crdts. Pract.
Dpto. Respon.
Respon. Acta
FISICA, INGENIERIA DE SISTEMAS Y TEORIA
FISICA APLICADA
3
0
Estudios en los que se imparte
DOCTORADO EN FÍSICA, INGENIERÍA DE SISTEMAS Y TEORÍA DE LA SEÑAL
Pre-requisitos
Sin incompatibles
Incompatibilidades de matrícula por contenidos equivalentes
Sin Datos
Matriculados (2015-16)
Sin Datos
Ofertada como libre elección (2015-16)
Sin departamento
Consulta Gráfica de Horario
Pincha aquí
Horario (2015-16)
Sin horario
Grupos de matricula (2015-16)
Sin grupos
Objetivos de las asignatura / competencias (2015-16)
Sin Datos
Contenidos teóricos y prácticos (2015-16)
Sin Datos
Más información
Sin Datos
Profesor/a responsable
Sin Datos
Metodología docente (2015-16)
Sin Datos
Tipo de actividades: teóricas y prácticas
Sin Datos
Profesores (2015-16)
Sin Datos
Enlaces relacionados
Sin Datos
Bibliografía
Ordenar por título del libro
Ordenar por profesor que lo recomienda
No existen libros recomendados en esta asignatura para este año académico.
Fechas de exámenes oficiales (2015-16)
Información no disponible en estos momentos.
Instrumentos y criterios de evaluación (2015-16)
Sin Datos