HOLOGRAFÍA Y PROCESADO ÓPTICO
 
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DATOS DEL PROYECTO
Título:  Use and characterization of interferometers in ultraprecise surface metrology (Uso y caracterización de interferómetros en metrología ultraprecisa de superficies)
Referéncia:  JC2007-00214
Tipo:  Estancias Profesores de la UA en el Exterior (sueldo, viajes y dietas)
Desde:  01/02/2008
Hasta:  31/07/2008
Página mantenida por el V Investigación, Desarrollo e Innovación.
Última actualización: 19-1-2019
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